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挑战ATE设备PXI展现RF测试优势

发布时间:2021-02-01 11:51:14 阅读: 来源:摇摆机厂家

传统半导体RF元件的测试,均需透过笨重且昂贵的ATE(自动化测试)设备来进行,过程耗时,且十分不经济。面对这样的问题,市场似乎需要更有弹性、更低成本、且维持高可靠度的新型态仪器设备。也因此,完全具备这些优势的PXI模组化仪器,正好扮演了RF市场的救世主角色。

附图:?PXI?RF仪器的出现,适时填补了市场上所缺乏的低价格与低接脚仪器产品这个区块。BigPic:468x223NI行销经理郭皇志指出,事实上随着近年来无线通讯市场的蓬勃发展,RF元件的测试挑战早就成为相关厂商心中最大的隐忧,特别是传统ATE仪器动辄高达数千万元的购置成本,与接脚数过多的低弹性,让测试过程所费不赀。面对ATE设备成为测试过程中的痛,量测厂商以更具优势的仪器来取代传统ATE设备成为当务之急。而PXI模组化仪器的出现,也直接解决了困扰业者已久的测试问题。

郭皇志说,其实PXI仪器的优势,早早就体现于测试市场之中。与ATE设备相较,PXI仪器的购置成本仅需ATE的十分之一,且具备高度弹性,不必像过去需以过多接脚的ATE设备来测试RF元件。这已经在RF测试市场造成很大的回响。不仅价格方面已经拥有极大的竞争力,且NI积极透过并购包括AWR与Phase?Matrix等厂商,来进一步掌握RF关键技术,借以提升PXI仪器的RF测试能力。

当然,PXI?RF仪器尽管已在RF测试市场稳占一席之地,只不过高速数位讯号仍是PXI仪器的最大罩门,使得ATE设备在固有疆域还是站有稳定基础,例如高速数位与高功率电源晶片等测试市场,目前仍由ATE所稳固把持。

事实上,PXI?RF仪器的出现,适时填补了原本市场上所缺乏的低价格与低接脚仪器产品这个区块,着实让RF仪器方案采购人员笑颜大开。在这些优势的催化下,PXI仪器未来在RF元件测试市场,势必将持续夺下更高的占有率。

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